原理：

同軸線性光柵結構光也是通過被測物體反射回來的光柵與參考光柵之間的幾何關系，分析得到每一個被測點之間的高度差和深度信息，主要配合線掃相機使用。

特點：

絲印高精度條紋結構；

高均勻性利用條紋變形檢測；

需配合線掃相機使用；

線陣項目專用，高亮，精度高。條紋間隔有（0.2mm，0.3mm，0.5mm）；

根據客戶要求可進行不同間距定制；

應用：

手機玻璃表面缺陷檢測；

凹點、凸點、水波紋變形；

高反光汽車部件外觀檢測；

空調面板外觀檢測；

2.5D 面變形等；

★應用案例